影響涂層測厚儀測量值精度的因素

1．影響因素的有關(guān)說明

a 基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的）為了避免熱處理和冷加工因素的影響應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。

b 基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。

c 基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
d 邊緣效應(yīng)
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的。

e 曲率
試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

f 試件的變形
測頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù)。

g 表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，德圖紅外熱像儀每次測量時(shí)在不同位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn)；或用對基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后再校對儀器的零點(diǎn)。

g 磁場
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測厚工作。

h 附著物質(zhì)
本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感因此必須清除附著物質(zhì)以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

i 測頭壓力
測頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測量的讀數(shù)因此要保持壓力恒定。

j 測頭的取向
測頭的放置方式對測量有影響。在測量中應(yīng)當(dāng)使測頭與試樣表面保持垂直。

2．使用儀器時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定

a 基體金屬特性
對于磁性方法標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對于渦流方法，標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì)應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似。

b 基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度如果沒有可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn)。

c 邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測量。

d 曲率
不應(yīng)在試件的彎曲表面上測量。

e 讀數(shù)次數(shù)
通常由于儀器的每次讀數(shù)并不完全相同因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測量表面粗造時(shí)更應(yīng)如此。

f 表面清潔度
測量前應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)