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技術(shù)文章
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    X 射線熒光測試儀
    型 號:XDAL
    品 牌:德國菲希爾Fischer
    技術(shù)指標:不適合測量十分細小的結(jié)構(gòu)
    德宏X 射線熒光測試儀-XDAL-德國菲希爾Fischer

    X 射線熒光測試儀,江蘇涂層測厚儀,帶有可編程的 X/Y平臺和Z軸,兩用涂層測厚儀,可自動測量鍍層厚度和分析材料組分


    特點

    • 配備了半導(dǎo)體探測器,涂層測厚儀d3,由于有更好的信噪比,非鐵基涂層測厚儀,能更精確地進行元素分析和薄鍍層測量
    • 使用微聚焦管可以測量較小的測量點,涂層測試儀,但因為其信號量較低,涂鍍層測厚儀,不適合測量十分細小的結(jié)構(gòu)  
    • 底部C型開槽的大容量測量艙
    • 有彈出功能的快速、可編程XY平臺

    典型應(yīng)用領(lǐng)域

    • 鍍層和合金的材料分析(還適用于薄鍍層和低含量成分)
    • 來料檢驗,紅外線測厚儀,生產(chǎn)監(jiān)控
    • 研究和開發(fā)
    • 電子工業(yè)
    • 接插件和觸點
    • 黃金、珠寶和鐘表工業(yè)
    • 可以測量數(shù)納米薄的鍍層,混凝土涂層測厚儀,如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層
    • 痕量元素分析
    • 在有“高可靠性”要求的應(yīng)用中確定鉛(Pb)含量
    • 硬質(zhì)鍍層分析  


    同類產(chǎn)品
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