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高性能X射線熒光測量儀 |
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| 型 號：XAN 250/252 |
| 品 牌：德國菲希爾Fischer |
| 技術(shù)指標：RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量 |
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果洛高性能X射線熒光測量儀-XAN 250/252-德國菲希爾Fischer
高性能X射線熒光測量儀，數(shù)字涂層測厚儀，配有最先進的硅漂移探測器(SDD)，qnix1200涂層測厚儀，可快速、無損地進行RoHS檢測、材料分析和鍍層厚度測量。
特點
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高性能機型，尼克斯涂層測厚儀，具有強大的綜合測量能力
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配有4 個電動調(diào)節(jié)的準直器和6個電動調(diào)節(jié)的基本慮片
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配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD)，鐵基涂層測厚儀，還適用于更復雜的多元素分析
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由下至上的測量方向，涂層測厚儀廠家直銷，可以非常簡便地實現(xiàn)樣品定位
典型應(yīng)用領(lǐng)域
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對電子和半導體行業(yè)中僅幾個納米的功能性鍍層進行測量
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對有害物質(zhì)進行痕量分析，涂層測厚計，例如，日照涂層測厚儀應(yīng)用，玩具中的鉛含量
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在珠寶和手表業(yè)，涂層測厚儀智昊，以及在金屬精煉領(lǐng)域，德國進口涂層測厚儀，對合金進行高精度的分析
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用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域
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