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產(chǎn)品概述：

是一種多用途工業(yè)檢驗用光學(xué)儀器，配置明/暗場物鏡、大視野目鏡與偏光觀察裝置，透反射照明采用“柯勒”照明系統(tǒng)，視場清晰。

功能特點：

可用于半導(dǎo)體硅晶片、LCD基板、電路板、固體粉未及其它各種透明或不透明工業(yè)試樣的檢驗，，是生物學(xué)、金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子工程學(xué)等研究的理想儀器

技術(shù)參數(shù)：

▲      采用無限遠光學(xué)系統(tǒng)及模塊化功能設(shè)計。

▲      長工作距離明/暗視場平場物鏡，，視場大而清晰。

▲      廣角平場目鏡：視場直徑Ф22mm。

▲      粗微動同軸調(diào)焦機構(gòu)，粗動松緊可調(diào)，帶限位鎖緊裝置，微動格值:2μm。

▲      內(nèi)置式可切換偏光觀察裝置，起偏器可360°旋轉(zhuǎn)。

▲      上光源采用翻蓋式12V50W鹵素?zé)粝�，更換燈炮安全便捷，下光源采用12V30W鹵素?zé)�，加裝散熱片。

▲      三目鏡筒可自由切換目視觀察與顯微攝影，，攝影時可100%通光，適合暗視場顯微圖像拍攝。

基本配置：

可選附件：