|
規(guī)格
|
|
|
|
AC耐壓
|
輸出電壓范圍
|
0.10kV~5.00kV ac
|
|
輸出電壓分辨率
|
10V
|
|
最大額定負(fù)載
|
100VA(5kV/20mA)
|
|
最大額定電流
|
20mA(0.5kV＜V≤5kV)；5mA(0.1kV≤V≤0.5kV)
|
|
輸出電壓波形
|
正弦波
|
|
輸出電壓頻率
|
50Hz/60Hz可選
|
|
電壓調(diào)節(jié)率
|
±(1.5%+2計(jì)數(shù))[滿(mǎn)載→空載]
|
|
電壓表精度
|
±(1.5%讀值+2計(jì)數(shù))
|
|
電流測(cè)量范圍
|
0.01mA~20.0mA
|
|
電流最佳分辨率
|
0.01mA/0.1mA
|
|
電流測(cè)量精度
|
±(2.0%讀值+5計(jì)數(shù))當(dāng)HI SET＜1.00mA；±(2.0%讀值+3計(jì)數(shù))當(dāng)HI SET≥1.00mA
|
|
電流判定精度
|
±(3.0%設(shè)定值+5計(jì)數(shù))當(dāng)HI SET＜1.00mA；±(3.0%設(shè)定值+3計(jì)數(shù))當(dāng)HI SET≥1.00mA
|
|
視窗比較方式
|
有
|
|
ARC偵測(cè)
|
有
|
|
RAMP(提速時(shí)間)
|
0.1s固定
|
|
計(jì)時(shí)(測(cè)試時(shí)間)
|
OFF，絕緣耐壓測(cè)試儀原理，1s~180s
|
|
GND
|
ON
|
|
DC耐壓
|
輸出電壓范圍
|
0.10kV~6.00kV dc
|
|
輸出電壓分辨率
|
10V
|
|
最大額定負(fù)載
|
25W(5kV/5mA)
|
|
最大額定電流
|
6mA(0.5kV＜V≤6kV)；2mA(0.1kV≤V≤0.5kV)
|
|
電壓調(diào)節(jié)率
|
±(1.5%+2計(jì)數(shù))[滿(mǎn)載→空載]
|
|
電壓表精度
|
±(1.5%讀值+2計(jì)數(shù))
|
|
電流測(cè)量范圍
|
0.01mA~6.00mA
|
|
電流最佳分辨率
|
0.01mA
|
|
電流測(cè)量精度
|
±(2.0%讀值+5計(jì)數(shù))當(dāng)HI SET＜1.00mA；±(2.0%讀值+3計(jì)數(shù))當(dāng)HI SET≥1.00mA
|
|
電流判定精度
|
±(3.0%設(shè)定值+5計(jì)數(shù))當(dāng)HI SET＜1.00mA；±(3.0%設(shè)定值+3計(jì)數(shù))當(dāng)HI SET≥1.00mA
|
|
視窗比較方式
|
有
|
|
ARC偵測(cè)
|
有
|
|
RAMP(提速時(shí)間)
|
0.1s固定
|
|
計(jì)時(shí)(測(cè)試時(shí)間)
|
OFF，全自動(dòng)絕緣耐壓測(cè)試儀，1s~180s
|
|
GND
|
ON
|
|
絕緣電阻
|
輸出電壓
|
50V, 100V, 250V, 500V, 1000V dc
|
|
輸出電壓精度
|
±(3.0%設(shè)定值+1計(jì)數(shù))[空載]
|
|
電阻測(cè)量范圍
|
1MΩ~2000MΩ
|
|
測(cè)試電壓
|
測(cè)量范圍 精度
|
|
50V/100V/250V
|
1~50MΩ ±(5%讀值+2MΩ)
|
|
51~2000MΩ ±(10%讀值+2MΩ)
|
|
500V/1000V
|
1~500MΩ ±(5%讀值+2MΩ)
|
|
501~2000MΩ ±(10%讀值+2MΩ)
|
|
視窗比較方式
|
有
|
|
輸出阻抗
|
600kΩ
|
|
RAMP(提速時(shí)間)
|
0.1s固定
|
|
計(jì)時(shí)(測(cè)試時(shí)間)
|
OFF，絕緣耐壓測(cè)試儀要強(qiáng)檢，1s~180s
|
|
GND
|
OFF(固定)
|
|
測(cè)試方式*
|
單次
|
ACW, DCW, IR
|
|
自動(dòng)
|
AC-IR, IR-AC, DC-IR, IR-DC
|
|
接口
|
遠(yuǎn)程端子(前)
|
標(biāo)配
|
|
信號(hào)I/O
|
標(biāo)配
|
|
顯示
|
|
240×48冰藍(lán)點(diǎn)陣LCD
|
|
電源
|
|
AC 100V~120V/220V~240V±10%，50/60Hz
|
|
功率損耗
|
|
400VA Max
|
|
尺寸&重量
|
|
330(W)×148(H)×385(D)mm
約9kg max
|
|
|
|
|
|
*“測(cè)試模式”與所選機(jī)型有關(guān)
|
