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技術(shù)文章
  • 文山X射線熒光測試儀 XDLM
  • 氣體報警器的設計原理
  • 測厚儀的工作原理和設計方案
  • 溫度計的分類及變遷
  • 區(qū)別料位計和液位計的辦法
  • 氣相色譜儀使用注意事項
  • 白度儀工作白板的保存以及儀器維護
  • FLUKE 971溫濕度計應用
  • 熱電偶檢定爐控溫儀的故障
  • 干濕球溫度計測量溫濕度的工作原理
  • 當前位置:首頁 > 文山儀器儀表 > 文山無損檢測儀器 > 文山涂層測厚儀
    X射線熒光測試儀
    型 號:XDLM
    品 牌:德國菲希爾Fischer
    技術(shù)指標:適用于遠距離測量(DCM方法,范圍0-80 mm)
    文山X射線熒光測試儀-XDLM-德國菲希爾Fischer

    X射線熒光測試儀,德國尼克斯涂層測厚儀,可在微小樣品上,易高涂層測厚儀,手動或全自動測量印刷線路板、電子元件和大規(guī)模生產(chǎn)零部件上的鍍層厚度。包括鎳層測厚、化鎳厚度等。


    XDLM鍍層厚度測量儀特點

    • 通用性極廣,涂層測厚儀使用說明書,因為配備了微聚焦管、4個可切換準直器和 3 個基本濾片
    • 適用于微小結(jié)構(gòu),鋼結(jié)構(gòu)涂層測厚儀,如接插件或線路板
    • 還適用于遠距離測量(DCM方法,費舍爾涂層測厚儀,范圍0-80 mm)
    • 底部C型開槽的大容量測量艙
    • 可編程的臺式設備,涂層測厚儀規(guī)格,用于自動測量 

    XDLM鍍層厚度測量儀典型應用領(lǐng)域

    •  測量印刷線路板工業(yè)中,涂層激光測厚儀,薄金、鈀和鎳鍍層。鎳層測厚、化鎳厚度
    • 測量接插件鍍層和觸點鍍層。
    • 在電子和半導體行業(yè)中測量功能性鍍層。
    • 黃金、珠寶和鐘表工業(yè)。


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