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鹽城硬度檢測(cè)儀-TIV-美國(guó)GE

TIV（通過(guò)壓痕觀察）法是建立在維氏硬度檢測(cè)之上的；此方法通過(guò)特殊的光學(xué)方法“看穿” 維氏金剛石。，時(shí)代超聲波硬度計(jì)，當(dāng)探頭壓人在材料的同時(shí)，壓痕的圖片就被直接、自動(dòng)并迅速地進(jìn)行傳輸和評(píng)估，超聲波硬度計(jì)壓電，儀器通過(guò)壓痕，超聲波硬度計(jì)的價(jià)格，讀出測(cè)量結(jié)果。

規(guī)格：

檢測(cè)法	“通過(guò)壓痕觀察”：光學(xué)硬度檢測(cè)法是基于維氏硬度方法之上的；具有一個(gè)帶CCD攝像頭的光學(xué)系統(tǒng)，用于自動(dòng)或手動(dòng)確定穿過(guò)金剛石的對(duì)角線長(zhǎng)度；通過(guò)顯示圖片對(duì)金剛石壓痕進(jìn)行光學(xué)控制。
檢測(cè)的材料	手持式探頭 TIV 105；檢測(cè)負(fù)載5 kgf (50 N)，超聲波硬度計(jì)使用方法，手持式探頭 TIV 101；檢測(cè)負(fù)載 1 kgf (10 N), ~220 mm L x 52 mm Ø (8.7” L x 2.0” Ø)
檢測(cè)的材料	靜態(tài)施加負(fù)載能夠檢測(cè)大多數(shù)不同材料的硬度，無(wú)需任何附加校準(zhǔn)（如鋼、有色金屬、硬質(zhì)合金金屬、陶瓷、玻璃、塑料）
測(cè)量范圍	取決于探頭；用于 TIV 105：約 100 HV – 1000 HV, 用于 TIV 101：約 30 HV – 500 HV
顯示器	1/4 VGA彩色TFT 顯示器、5.7” 可視區(qū)；115.2 mm x 76.8 mm ( 4.5” x 3.0”)、240 x 320 像素、背光式
對(duì)話語(yǔ)言	英語(yǔ)、德語(yǔ)、法語(yǔ)、其他語(yǔ)種
轉(zhuǎn)換標(biāo)尺與分辨率	HV (1.0); HB (1.0); HS (1.0/0.5/0.1); HRC (1.0/0.5/0.1); HRB (1.0/0.5/0.1); N/mm2 (5.0)
轉(zhuǎn)換	自動(dòng)根據(jù) DIN 50150, ASTM E140
評(píng)估	檢測(cè)數(shù)據(jù)顯示為曲線圖、直方圖，超聲波硬度儀，或表格形式；計(jì)算統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)（如平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、范圍）
儀器自動(dòng)切斷	自由選擇一段時(shí)間后，自動(dòng)存儲(chǔ)檢測(cè)數(shù)據(jù)和儀器設(shè)置
鍵盤	帶有集成觸摸屏的薄膜式鍵盤
電源	線路適配器 (100V – 240V)、NiMH 電池組 MIC 20-BAT、4.5 Ah（內(nèi)部充電），或6節(jié)市售C電池（NiCad 或 NiMH）
操作時(shí)間	用電池組MIC 20-BAT持續(xù)操作約1,000個(gè)測(cè)量值
電池充電指示器	電量不足儀器關(guān)機(jī)
操作系統(tǒng)	WinCE
接口	雙向RS-232，以太網(wǎng)10 Mbit
外殼	塑料注模制品
溫度范圍	操作溫度：-0° C ~ +50° C ( 32° F ~ 122° F) 存儲(chǔ)溫度：-20° C ~ +70° C (-4° F ~ 158° F)
重量	~1.4 kg ( 3.1 lb)包括 MIC 20-BAT在內(nèi)
大小	78 mm 高 x 215 mm 寬 x 180 mm Ø (3.1” H x 8.5” W x 7.1” Ø
檢測(cè)附件	標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)用與測(cè)量的檢測(cè)附件使用一個(gè)支架
其他附件	攜帶箱、金剛石清潔布、硬度參考試塊（帶證書）、電池驅(qū)動(dòng)研磨臺(tái)、打印機(jī)電纜、不同的檢測(cè)用支架以及探頭附件、應(yīng)用軟件UltraDAT

特點(diǎn)：

通過(guò)壓痕觀察法

不管何種材料都可以用TIV硬度檢測(cè)儀--無(wú)需任何附加校準(zhǔn)。您可用同一儀器測(cè)量各種材料的硬度，無(wú)需任何參比試樣，也無(wú)需任何費(fèi)力的設(shè)置：從鋼和有色金屬到塑料、硬質(zhì)合金金屬、玻璃，以及陶瓷、不同的涂層。

靜態(tài)施加檢測(cè)負(fù)載可減少檢測(cè)物體的振動(dòng)，北京時(shí)代超聲波硬度計(jì)，減小檢測(cè)材料的彈性性質(zhì)對(duì)檢測(cè)結(jié)果的影響。另一優(yōu)點(diǎn)：您甚至可用TIV成功測(cè)量非常薄的檢測(cè)物體，如線圈或金屬片及金屬箔，固定式或移動(dòng)式硬度檢測(cè)儀先前都無(wú)法測(cè)量。因此，硬度檢測(cè)變得既不依賴于材料，也不依賴于檢測(cè)物體的質(zhì)量和幾何結(jié)構(gòu)。這意味著TIV為移動(dòng)式硬度檢測(cè)開啟了新的應(yīng)用領(lǐng)域。

直接、自動(dòng)、快速測(cè)量與評(píng)估

正如第一臺(tái)便攜式儀器一樣，TIV不能確定維氏金剛石壓痕的大小，天津超聲波硬度計(jì)，因而不能間接或直接確定材料的硬度：“通過(guò)壓痕觀察”是指一施加檢測(cè)負(fù)載的同時(shí)，您就可在檢測(cè)物體表面看到維氏金剛石壓痕的“生長(zhǎng)”--這通過(guò)特殊的光學(xué)元件和CCD攝像頭可予以保證。一旦達(dá)到檢測(cè)負(fù)載，壓痕就自動(dòng)進(jìn)行評(píng)估和傳輸。這就意味著無(wú)需迂回（通過(guò)顯微鏡）就能直接確定對(duì)角線。您的優(yōu)點(diǎn)：測(cè)量不僅更快，超聲波硬度計(jì)原理，而且可排除確定對(duì)角線長(zhǎng)度時(shí)的主觀錯(cuò)誤。此外：通過(guò)顯示器上的顯示，TIV 是唯一能夠直接控制和立即評(píng)估測(cè)量質(zhì)量的硬度檢測(cè)儀。不僅如此，壓痕的圖片可直接識(shí)別金剛石的狀態(tài)。

獨(dú)特的技術(shù)

TIV硬度檢測(cè)儀的彩色LCD不僅可以為您提供金剛石壓痕的圖片，而且還可以按照所選硬度單位直接顯示的讀數(shù)。顯示在顯示器上的圖形用戶界面適應(yīng)于家喻戶曉的Windows標(biāo)準(zhǔn)。用這種方法，不管要配置、測(cè)量、評(píng)估或存儲(chǔ)，您都可以快速地熟練掌握如何操作儀器。另外：您無(wú)需鼠標(biāo)而用一支筆就可以選擇功能，因?yàn)閮x器有一個(gè)觸摸屏。并且，山東數(shù)字超聲波硬度計(jì)價(jià)格，作為代替品，您也可以使用傳統(tǒng)的按鍵操作來(lái)完成功能選擇。

主要特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)

根據(jù)維氏硬度原理檢測(cè)硬度

通過(guò)壓痕觀察（通過(guò)特殊的光學(xué)元件和CCD攝像頭）
通過(guò)觀察彩色顯示器上壓痕的成長(zhǎng)來(lái)直接檢查和評(píng)估測(cè)量質(zhì)量
全自動(dòng)評(píng)估維氏壓痕，確定對(duì)角線，無(wú)需迂回（通過(guò)顯微鏡）
不受檢測(cè)方向和檢測(cè)物體材料的限制
測(cè)量范圍約為30HV到1000HV以上（取決于探頭）
排列清晰的數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，能簡(jiǎn)單而有序地對(duì)檢測(cè)結(jié)果進(jìn)行存儲(chǔ)。系列測(cè)量值能夠被調(diào)出并進(jìn)行編輯。

操作簡(jiǎn)單

三個(gè)主菜單使您更易訪問(wèn)最重要的儀器功能--您只需“單擊屏幕”幾次就可以到達(dá)您的目的地。您想看曲線圖、直方圖或統(tǒng)計(jì)表的系列檢測(cè)嗎？只需單擊一次。通過(guò)選擇另一個(gè)硬度表輕松實(shí)現(xiàn)。在菜單“數(shù)據(jù)”中，您可以以一種簡(jiǎn)單、直接的方式來(lái)存儲(chǔ)測(cè)量結(jié)果和壓痕圖片。

移動(dòng)式操作實(shí)踐

您既可以用電源連接又可以用標(biāo)準(zhǔn)電池，或通過(guò)我們提供的允許儀器內(nèi)部充電的可充電電池組來(lái)操作TIV。一段時(shí)間后，顯示器中斷，只需觸摸觸摸屏就可重新啟動(dòng)。自動(dòng)關(guān)機(jī)功能，關(guān)機(jī)前所有數(shù)據(jù)和設(shè)置會(huì)自動(dòng)保存。

應(yīng)用：

熱處理車間 - 簡(jiǎn)單、快速地確定表面硬度
航空航天 - 現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)薄壁部件及不同合金的硬度無(wú)需任何附件校準(zhǔn)
線圈制造商 - 對(duì)片材的移動(dòng)式硬度檢測(cè)很可靠
檢測(cè)公司 - 通過(guò)使用通用便攜式裝置進(jìn)行現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量
研究機(jī)構(gòu)、實(shí)驗(yàn)室和培訓(xùn)公司 - “看穿金剛石”，國(guó)產(chǎn)超聲波硬度計(jì)，觀察壓痕過(guò)程與測(cè)量控制


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