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技術文章
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    微分干涉相襯顯微鏡
    型 號:TMV302DIC
    品 牌:時代儀器
    技術指標:適用于對多種物體的顯微觀察
    玉樹微分干涉相襯顯微鏡-TMV302DIC-時代儀器
    產品概述:

    適用于對多種物體的顯微觀察。

    功能特點:

    配置落射DIC觀察系統(tǒng)與透射照明系統(tǒng)、無限遠長距平場消色差物鏡、大視野目鏡和偏光觀察裝置,,具有圖像立體感且清晰、造型美觀,操作方便等特點,是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。 

    技術參數:

    ★     采用優(yōu)良的無限遠光學系統(tǒng),可提供卓越的光學性能。

    ★     緊湊穩(wěn)定的高剛性主體,充分體現了顯微操作的防振要求。

    ★     大行程機械移動載物平臺,,適合于大試樣顯微觀察或多試樣快速檢測。

    ★     模塊化的功能設計,可以方便升級系統(tǒng),實現偏振觀察、微分干涉相襯觀察等功能。

    ★     符合人機工程學要求的理想設計,,使操作更方便舒適,空間更廣闊。 

    基本配置:


    可選附件:

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